低對比度細節(jié)檢測模體 英國Leeds / TO16 / TO20

產(chǎn)品簡介

低對比度細節(jié)檢測模體 英國Leeds / TO16 / TO20

1.低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質(zhì)量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)，CR系統(tǒng)(TO16);透視和血管造影系統(tǒng)(TO20)。

2.直徑250mm，厚度10mm;圓板中有12組不同細節(jié)點，每組中有12個不同直徑的細節(jié)點。144個細節(jié)點的對比度范圍從0.0014到0.924(在75kV和1.5mm銅濾過的條件下)。

TO16低對比度細節(jié)檢測模體特點：

　　1、低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質(zhì)量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)和CR系統(tǒng)；

　　2、這些測試對象旨在快速定量圖像質(zhì)量。 結(jié)果可以繪制在閾值檢測指數(shù)曲線上。

　　TO16低對比度細節(jié)檢測模體符合新WS標準

TO16低對比度細節(jié)檢測模體技術(shù)參數(shù)：

　　直徑250mm，厚度10mm

　　圓板中有12組不同細節(jié)點，每組中有12個不同直徑的細節(jié)點，直徑從0.25m到11mm

　　144個細節(jié)點的對比度范圍從0.0014到0.924（在75kV和1.5mm銅濾過的條下）

　　144個細節(jié)（12×12對比細節(jié)）

　　尺寸范圍11mm至0.25mm

對比度范圍0.0014至0.924 （在75kV，1.5mm Cu過濾條件下）

TO系列對比度細節(jié)模體專為圖像質(zhì)量的快速定量評估而設計。評估結(jié)果可以繪制在閾值探測指標曲線上。TO 16型對比度細節(jié)模體應用于計算機數(shù)字X線攝影系統(tǒng)上。每個細節(jié)規(guī)格上分布有12個對比度檢測圖樣。

Leeds TO16模體是厚10mm, 直徑250mm的圓板，可顯示包括144個圓形可探測細節(jié)，分12組，每組包含不同細節(jié)直徑，同一直徑對應12個對比度，不同射線能量由不同對比度。

144組可探測細節(jié)(12組*12個對比度)

直徑范圍：11.1mm 至 0.25mm

對比度范圍：0.0014至0.924 (75kV、1.5mm銅濾片條件下)

隨著技術(shù)的發(fā)展，直接數(shù)字化成像系統(tǒng)(DR)在臨床已經(jīng)得到很大的普及，相比較屏片系統(tǒng)，一臺調(diào)試較好的DR設備具有較高的曝光寬容度和檢測量子效率(DQE)，而且通過改善探測器的DQE可以達到提高圖像質(zhì)量和降低病人劑量的雙贏。DR設備通常具有受檢者劑量計算功能，但其圖像質(zhì)量情況卻很難定量和定性地評價，TO 16模體是為評價DR設備閾值對比度細節(jié)探測能力(TCDD)而設計的模體，進而反應該系統(tǒng)的信噪比和低對比度分辨力，醫(yī)院技師和質(zhì)量控制人員定期對TCDD進行檢測，結(jié)合劑量情況，可對DR設備整體性能作出綜合評價。

醫(yī)院技師和質(zhì)控人員定期用TO 16模體測試數(shù)字成像系統(tǒng)的TCDD，可以即定量又定性的分析評價低對比度分辨力，再結(jié)合數(shù)字成像系統(tǒng)本身提供的受檢者的劑量情況，可以綜合評價成像系統(tǒng)的性能，以保證系統(tǒng)始終處于較好的工作狀態(tài)。

L醫(yī)院技師和質(zhì)控人員定期用 Leeds TO16 模體測試數(shù)字成像系統(tǒng)的TCDD， 可以即定量又定性的分析評價低對比度分辨力， 再結(jié)合數(shù)字成像系統(tǒng)本身提供 的受檢者劑量情況， 可以綜合評價成像系統(tǒng)的性能，以保證系統(tǒng)始終處于較好的工作狀態(tài)。

Leeds To20模體與Leeds TO16模體相似，兩種檢測器件(模體)均為一個直徑250mm和厚度10mm的圓形板，板中有12組不同細節(jié)尺寸排列，每個有12個直徑相同的細節(jié)，12組的細節(jié)直徑尺寸從0.25mm到11mm的變化范圍，共有144個細節(jié)得到從0.0014到0.924(在75kV和1.5mm銅濾過條件下)12組不同對比度范圍。

兩種檢測器件均可以提供60、65、70和80kV在1.5mm銅濾過條件下獲取的影像12組不同對比度范圍值。其終測量結(jié)果可顯示一個閾值探測指數(shù)曲線圖。

TO系列對比度細節(jié)模體專為圖像質(zhì)量的快速定量評估而設計。評估結(jié)果可以繪制在閾值探測指標曲線上。